Número de Producto del Fabricante:
SN74BCT8374ADWR
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SN74BCT8374ADWR-DG
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Descripción Detallada:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Inventario:
1548991
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ENVIAR
SN74BCT8374ADWR Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
-
Serie
74BCT
Estado del producto
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos del proveedor
24-SOIC
Número de producto base
74BCT8374
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Información Adicional
Paquete Estándar
2,000
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
1 (Unlimited)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
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