SN74BCT8374ADW
Número de Producto del Fabricante:

SN74BCT8374ADW

Product Overview

Fabricante:

Texas Instruments

Número de pieza:

SN74BCT8374ADW-DG

Descripción:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Descripción Detallada:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

Inventario:

75 Pcs Nuevos Originales En Stock
1718307
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SN74BCT8374ADW Especificaciones Técnicas

Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
Tube
Serie
74BCT
Estado del producto
Active
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos del proveedor
24-SOIC
Número de producto base
74BCT8374

Hoja de Datos y Documentos

Hojas de datos
SN54/74BCT8374A

Información Adicional

Paquete Estándar
25
Otros nombres
SN74BCT8374ADWE4-DG
SN74BCT8374ADWE4
-SN74BCT8374ADW-NDR
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-DG
296-33849-5
SN74BCT8374ADW-DG

Clasificación Ambiental y de Exportación

Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
1 (Unlimited)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
certification_01
certification_02
certification_03
certification_04
cr
certification_015
certification_08
esd
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