SN74BCT8373ADWR
Número de Producto del Fabricante:

SN74BCT8373ADWR

Product Overview

Fabricante:

Texas Instruments

Número de pieza:

SN74BCT8373ADWR-DG

Descripción:

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Descripción Detallada:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC

Inventario:

1578872
Solicitar Cotización
Cantidad
Mínimo 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) es obligatorio
Te responderemos en un plazo de 24 horas
ENVIAR

SN74BCT8373ADWR Especificaciones Técnicas

Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
-
Serie
74BCT
Estado del producto
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Latches
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Caja
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivos del proveedor
24-SOIC
Número de producto base
74BCT8373

Hoja de Datos y Documentos

Hojas de datos

Información Adicional

Paquete Estándar
2,000
Otros nombres
2156-SN74BCT8373ADWR-TITR
TEXTISSN74BCT8373ADWR

Clasificación Ambiental y de Exportación

Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
1 (Unlimited)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificación DIGI
Productos relacionados
microchip-technology

SY10EL16VFKI

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY10EL16VZG

IC RECEIVER 5V/3.3V DIFF 8SOIC

microchip-technology

SY100S815ZC

IC DRIVER DIFF 1:4 SGL 16-SOIC

microchip-technology

SY10EL16VFZC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC